产品说明
ISO分辨率测试卡TE132-Q专门用于做高分辨率的测量，在白色背景上印着5对每毫米频率从1-18的黑色和白色线。
分辨率测试图卡上的模块按逆时针降低分辨率排列。
类型：透射式、反射式。
规格：可用图像尺寸80x80mm；图卡整体尺寸150x150mm。
NBS 1963A 分辨率测试板基于美国国家标准局1963A分辨率图案设计。每个模块有5对黑白线对，频率范围从1至512线对/毫米，图案从中心到外围，空间频率逐渐增加，形成分辨率测试的梯度范围，便于直观判断光学系统的极限分辨率。
应用领域
广泛应用于光学成像系统的分辨率量化测试，从科研到工业生产的光学成像质量控制场景，如相机与镜头研发及质检、光学仪器与设备校准等。
| 通用技术规格 |
| 基板厚度 |
1.5mm |
| 镀层工艺 |
真空沉积高耐久铬膜 |
| 光密度 |
≥3.0 |
